紙捲、膠膜硬度檢測儀器

紙捲、膠膜硬度檢測儀器

產品型號:Equotip 550 Leeb U

產品敘述

紙捲,膠片捲和薄膜卷硬度檢測

 

 

Equotip® 550 Leeb U

使用 Equotip 550 Leeb U,用戶可快速而準確地診斷紙捲缺陷,硬度不均和繞組不均等情況,從而預防打印和的問題。 Equotip 550 Leeb U 輕巧,便於攜帶,非常適合在倉庫或生產車間裡進行紙捲硬度檢測,並可即時目測其硬度。  
向下兼容性
新的 Equotip 550 Leeb U 與現有 Parotester 衝擊裝置兼容。測量完全相同,而電纜的使用耐久性顯著改善。

 

 

PaperSchmidt

PaperSchmidt 是首款專門為測試紙捲硬度而設計的回彈儀。採用新的測量原理和高順應性活塞,提供前所未有的分析精度和可重複性。
除此之外,它有延長了的使用壽命,以應對紙業,膠片工業,薄膜 片工業的需求,儀器還攜帶專用軟件,例如預定義容差,方便檢測。

顯示屏 單色圖形顯示屏 17 x 71 像素
內存(動態)  示例 1:每個序列 10 個值,可存 401 個序列
區域設置 與語言無關
功耗 測量時 ~13 mA,
設置和查看時 ~4 mA,
空閒時 ~0.02 mA
充電器 B 型 USB (5 V, 100 mA)
尺寸 55 x 55 x 250 mm (2.16 x 2.16 x 9.84”),
340 mm (13’’) 至衝擊棒頂部
重量 570 g (1.26 lbs)
電池 鋰聚合物,3.6 V,160 mAh
電池使用時長 > 5'000 次沖擊
工作溫度 0 – 50 °C (32 – 122 °F)
IP等級 IP 54
認證 CE

 

 

Original Schmidt®

Original Schmidt L/LR 在紙捲和膠片卷硬度檢測方面(例如,紙捲的
硬度分析)具有悠久的歷史。
 
本系統使用簡單,可即時獲取紙捲質量信息。 Original Schmidt L/ LR 大多數用於生產車間。在檢測過的紙張上,將 Original Schmidt LR 的經典回彈值“R”打印在註冊紙上。

 

  Original Schmidt L 型 Original Schmidt LR 型
衝擊能量 735 Nmm 735 Nmm
尺寸 Ø 55 x 275 mm (Ø 2.17 x 10.83”) 275 x 137 x 80 mm (10.8 x 5.4 x 3.15”)
重量 0.8 千克(1.76 磅) 1.1 千克(2.43 磅)

 

驗證工具  
如需驗證裝置是否正常運行,Proceq 為每個儀器提供專用的
試塊或鋼砧。
這些可選的附件使得用戶能夠定期檢查儀器功能是否正常,
而且整個過程快速方便,可直接在現場進行。