膜厚量測、X射線螢光膜厚測量儀

膜厚量測、X射線螢光膜厚測量儀

產品型號:X-ray

產品敘述

膜厚量測

英國牛津儀器OXFORD

X射線螢光膜厚測量儀系列
用於電子元器件,半導體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器……多個行業。

膜厚量測、X射線螢光膜厚測量儀

900系列X射線螢光測厚儀
900 X射線螢光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量等優點,從質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。
快速、非破壞性EDXRF分析技術900系列X射線螢光測厚儀是一種功能強大的材料塗/鍍層測量儀器,可應用於材料的塗/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供準確、快速的分析。可同時測量最多5層、15種元素。
為滿足客戶需求提供各式型式與組合900-S(固定檯面)、900-M(加深型檯面)、900-P(自動檯面)等。

X-STRATA 960系列鍍層析儀
X-Strata960 X射線螢光鍍層測厚儀可應用於電鍍、合金、薄膜和電鍍液中Ti22-U92間元素的厚度和組成信息的同時測定分析。
新一代的射線管:100W微焦點X射線管,提供高可靠、高精度高再現性和更短的分析時間。
全新開槽式超大型樣品室。
全機一體式設計,不需額外接電腦為滿足客戶需求提供各式型式與組合960-S(固定檯面)、960-M(手動檯面)、960-A(自動檯面)等。

歐盟限制使用有害物質條例(RoHS)於2006年7月1日正式實施。
RoHS條例嚴格控制電子與電器產品中的Pb、Hg、Cd、Cr6+、Br(PBB和PBDE)含量。

膜厚量測、X射線螢光膜厚測量儀

X-MET3000TXR+for RoHS Application
手持式 X射線螢光元素分析儀為了確保產品符合RoHS條例,生產商和供貨商,甚至產品回收商都必須對所有電子部件進行驗證。手持式XRF分析儀是針對RoHS條例的最佳測試工具。
牛津儀器的手持式X-Met3000TXR+是一款使用方便、安全可靠的無損分析工具,針對RoHS條例對塑料和其它電子部件進行篩選性分析。
X-Met可實現對所有受限制元素(Pb、Cd、Hg、Cr及Br)的定量分析。