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Nikon Eclipse MA100倒立式金相显微镜

产品型号:MA100

询价
Nikon Eclipse MA100倒立式金相显微镜
产品规格

操作更简单,成本收益率更高的显微镜

一款占地面积小、画面质量卓越、性价比高、耐用且体现人性化设计的倒置显微镜


ECLIPSE MA100 是一款应用明场或简易偏光照明技术,专为反射照明观察而设计的体积较小的倒置显微镜。
MA100 占地面积小,坚固耐用、操作简单,并且配备了卓越的尼康光学系统,是以下应用的理想台式系统解决方案:金相样本观察、电子元件观察、故障分析、材料科学及品管应用。


载物台
即使放置较重的标本也能进行稳定的操作新开发的载物台具有超强的耐久性


尼康特别为 MA100 开发的新型 MA-SR 矩形载物台。 三板式结构载物台使显微镜操作更为稳定,耐久性更高,可用于观察较重的标本,无需将标本从研磨树脂上取出,可以直接置于载物台上观察。
  CFI60
CFI60 光学系统可确保锐利、清晰的观察效果

尼康拥有专利的CFI60光学系统具有更高的数值孔径和更长的工作距离。 CFI60 LU 光学系统可为用户提供明亮的高对比度、高分辨率图像。 MA100配有内置图像端口,十分适合数字图像拍摄。 内置物镜转换转盘最多可安装5个物镜镜头,方便用户以各种倍率精度观察。
  孔径光阑
标配口径光阑

洛射照明弃标配各种孔径光阑,可灵活控制图象队度和景深
  反光镜
迅速确定物镜倍率精度

ECLIPSE MA100 的载物台下方装有反光镜,方便用户查看物镜倍率。 现在用户不但可以轻松验证所用物镜镜头种类,而且无需查看债务台下方情况便可检查标本位置。
  起偏器 / 检偏器
通过联动式起偏器 / 检偏器机构进行简易偏光观察

用户可通过 MA-P/A Po1套件轻松进行反射偏光观察。 只需一步简单的操作便可将起偏器和检偏器置入光路中。 起偏器能旋转360°,方便用户设置一个适合标本观察的偏光方向。
可用于偏光观察的标本包括:塑料、薄膜、金属、污染物、化学品、应变测试材料、玻璃和其他材料等。

尼康显微镜独有的最佳成像功能。


图像拍摄

DS-L2 相机控制装置
独立型

用户无需使用目镜,便可通过内置高分辨率、大尺寸(8.4英寸) XGA LCD 显示屏,轻松观察和讨论标本情况。


可方便地存储 / 打印数据
已拍摄图像可存储至 USB 存储器或CF卡。 除了可通过兼容 PictBridge 的打印机直打印,用户还可通过局域网将数据存储至服务器。

状态显示


当物镜倍率精度改变时,可自动改变校准数据。 因此用户可方便地使用 DS-L2的测量功能。 照明亮度可通过调节电压值的方式手动调整。 这一 点对于设置最佳观察和拍摄参数非常重要。

图像分析

DS-L2 相机控制装置
PC 控制型
成像软件 NIS-Elements
控制软件

用户可通过 DS-U2和NIS-Elements进行从拍照到测量、分析及管理已拍摄图像等一系列操作。
*要想了解更多信息,请查看 NIS-Elements产品目录。


合成
相邻的图像可以拼接在一起,创建出宽视场图像。 因为照明效果更加均匀、一致,现在拍摄的图像更加生动。

状态显示


当物镜倍率精度改变时,可自动改变校准资料。 因此使用者可方便地使用 NIS-Elements的测量功能和其他可选软件模块(晶粒度和铸铁球化率分析模块等)。
用户可通过 PC 调节照明条件,这一点对于设置最佳观察、图像拍摄参数,尤其是大图像合成参数非常重要。

(同时显示中间可变倍率精度)

晶粒度分析模块


该模块可根据 JIS G0551或 ASTM E112-96/E1382-97 标准检测和测量1个或2个相位标本的晶粒度。

可进行以下测量:
  • G 晶粒度
  • 单位面积内的晶粒度及/或截距
  • 晶粒数量
  • 向异性指数
  • 其他基本晶粒度统计

可根据用户需求为其提供以下定制测量技术:

  • 平面
  • 线性
  • 圆形
  • Abrams
铸铁球化率分析模块


该模块可根据 JIS G5502 或 ASTM A247-06标准检测、测量和分类石墨校正标本的石墨成分和铁氧体成份。

主要应用:
  • 石墨形状及尺寸分类
  • 结核状态
  • 石墨、铁氧体、珠光体成份
  • 其他基本铁质材料分析统计
  • 图像遮罩、尺寸限制及模块形状分类