膜厚量测
英国牛津仪器OXFORD
X射线萤光膜厚测量仪系列
用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业。
900系列X射线萤光测厚仪
900 X射线萤光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量等优点，从质量管理到不良品分析有着广泛的应用。
快速、非破坏性EDXRF分析技术900系列X射线萤光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。可同时测量最多5层、15种元素。
为满足客户需求提供各式型式与组合900-S(固定台面)、900-M(加深型台面)、900-P(自动台面)等。
X-STRATA 960系列镀层析仪
X-Strata960 X射线萤光镀层测厚仪可应用于电镀、合金、薄膜和电镀液中Ti22-U92间元素的厚度和组成信息的同时测定分析。
新一代的射线管：100W微焦点X射线管，提供高可靠、高精度高再现性和更短的分析时间。
全新开槽式超大型样品室。
全机一体式设计，不需额外接电脑为满足客户需求提供各式型式与组合960-S(固定台面)、960-M(手动台面)、960-A(自动台面)等。
欧盟限制使用有害物质条例(RoHS)于2006年7月1日正式实施。
RoHS条例严格控制电子与电器产品中的Pb、Hg、Cd、Cr6+、Br(PBB和PBDE)含量。
X-MET3000TXR+for RoHS Application
手持式 X射线萤光元素分析仪为了确保产品符合RoHS条例，生产商和供货商，甚至产品回收商都必须对所有电子部件进行验证。手持式XRF分析仪是针对RoHS条例的最佳测试工具。
牛津仪器的手持式X-Met3000TXR+是一款使用方便、安全可靠的无损分析工具，针对RoHS条例对塑料和其它电子部件进行筛选性分析。
X-Met可实现对所有受限制元素(Pb、Cd、Hg、Cr及Br)的定量分析。
