Nikon LV-150N 正立金相显微镜

  • 产品型号： LV-150N

产品规格

Nikon LV-150N 正立金相显微镜
型号 LV150N LV150NL LV150NA
显微镜类型 手动型 电动型
(物镜转换器)
兼容的观察方法
  明场 暗场 DIC 萤光 偏光 双光束干涉测量
LV150 / LV150NA 反射 O O O O O O
反射 (LED) O O O - Δ -
LV150NL 反射 O - O - O O
*请使用适合于关察方法的物镜。
Δ：仅限简易偏光观察
兼容的载物台
  • LV‑S32 3×2 载物台 (行程：75 × 50 mm (附玻璃板)
    *可配备LV‑S32SPL ESD板
  • LV‑S6 6×6 载物台 (行程：150 × 150 mm)
    *可配备LV‑S6WH晶片夹 / LV‑S6PL ESD板
  • LV‑SRP P旋转载物台
  • P‑GS2 G旋转载物台2 (需配LV‑SAD转接板)
与Digital Sight显微镜数位相机集成 DS-L3 (独立型控制装置) 物镜资讯检测 (与智能物镜转换器LV-NU5I和LV-INAD 配合使用时) 物镜资讯检测与控制
DS-U3+NIS-Elements
(基于个人计算机控制的控制装置+ 影像软体)		 物镜资讯检测 (与智能物镜转换器LV-NU5I和LV-INAD 配合使用时) 物镜资讯检测与控制
Nikon LV-100ND 正立金相显微镜
型号 LV100ND LV100DA-U
显微镜类型 手动型 电动型
(物镜转换器 / 光强 / 孔径光阑 / 观察方法选择器)
兼容的观察方法
  明场 暗场 DIC 萤光 偏光 相对 双光束干涉测量
LV100ND、
LV100DA-U		 反射 O O O O O O -
反射 (LED) O O O - Δ - -
透射 O O O - O - O
* 请使用适合于观察方法的物镜。
Δ：仅限简易偏光观察
兼容的载物台
  • LV-S32 3×2 载物台 (行程：75 × 50 mm，附玻璃板) *可搭配使用 LV-S32SGH 载玻片标本夹。
  • LV-S64 6×4 载物台 (行程：150 × 100 mm，附玻璃板)
  • LV-SRP P旋转式载物台
  • P-GS2 G载物台 2 (配合载物台适配器 LV-SAD 使用)
  • NIU-CSRR2 Ni-U右边手柄旋转型陶瓷载物台 (行程：78 × 54 mm)
  • C-SR2S右手柄载物台 (行程：78 × 54 mm：配合载物台适配器 LV-SAD 使用)
与Digital Sight显微镜数码相机集成 DS-L3 (独立型控制装置) 物镜资讯检测 (与智慧物镜转换器 LV-NU5I 和 LV-INAD 搭配使用时) 物镜、光强、孔径光阑和观察方法 (场 / 暗场 / 荧光) 信息检测
DS-U3+NIS-Elements
(基于个人计算机控制的控制装置 + 成像软体)		 物镜资讯检测 (与智慧物镜转换器 LV-NU5I 和 LV-INAD 搭配使用时) 物镜、光强、孔径光阑和观察方法 (明场 / 暗场 / 荧光) 信息检测和控制
CFI₆₀-2光学系统
NIKON CFI₆₀-2 光学系统

CFI₆₀-2

更高的光学性能

尼康的CFI60光学系统，因其高数值孔径和长工作距离的独特设计理念而广受好评，已经在长工作距离、色差校正和轻量化方面占据了制高点。

T Plan、TU Plan Fluor和TU Plan Apo物镜

常规平场物镜

TU Plan Fluor 系列

EPI/BD 5x / 10x / 20x / 50x / 100x

只用一个镜头即可支援明场、暗场*、简易偏光、微分干涉和反射萤光观察。 透过所有倍率下的长工作距离获得卓越的色差校正性能，可适应任何应用。

TU Plan Fluor 系列物镜
种类 倍率 数值孔径 工作距离 (mm)
TU Plan Fluor EPI
(反射明场型)		 5× 0.15 23.5
10× 0.30 17.5
20× 0.45 4.5
50× 0.80 1.0
100× 0.90 1.0
TU Plan Fluor BD
(反射明暗场型)		 5× 0.15 18.0
10× 0.30 15.0
20× 0.45 4.5
50× 0.80 1.0
100× 0.90 1.0

低倍率物镜

T Plan EPI

EPI 1x / 2.5x

既可使用传统起偏器 / 检偏器进行清晰的观察，也可在无需起偏器 / 检偏器的情况下进行易于操作的观察。

T Plan EPI 低倍率物镜
种类 倍率 数值孔径 工作距离 (mm)
T Plan EPI
(反射明场型)		 1× 0.0.3 3.8
2.5× 0.075 6.5

复消色差物镜

TU Plan Apo 系列

EPI / BD 50x / 100x / 150x

透过使用菲涅尔透镜，这些物镜明显获得了更长的工作距离，同时保持复消色差镜头的卓越色差校正性能。

TU Plan Apo 系列复消色差物镜
种类 倍率 数值孔径 工作距离 (mm)
TU Plan Apo EPI
(反射明场型)		 50× 0.8 2.0
100× 0.9 2.0
150× 0.9 1.5
TU Plan Apo EPI
(反射明暗场型)		 50× 0.8 2.0
100× 0.9 2.0
150× 0.9 1.5

暗场照明

复眼透镜

复眼透镜

透过使用复眼透镜，CFI₆₀-2 光学系统为整个视野提供明亮的暗场照明，而几乎没有不均匀现象 (即使针对低倍率镜头) 。

暗场照明系统

暗场照明系统

随着数值孔径和工作距离的提升，物镜的外直径也增加。 但是，因为入射光的宽度是固定的，导致传统照明系统的光强度降低。
本照明系统使用环形透镜或环形棱镜 增加拍摄光线，并获得明亮、无衰减的暗场照明。

TU Plan ELWD与T Plan SLWD物镜 (长工作距离 / 超长工作距离物镜)

长工作距离物镜

TU Plan ELWD系列

EPI / BD｜20x / 50x / 100x

菲涅耳透镜的采用，增大了这些物镜的工作距离，同时提供比传统物镜更高的色差校正等级。工作距离的增大，提高了孔底 / 台阶底观察的深度范围，以及可操作性。

TU Plan ELWD 系列长工作距离物镜
种类 倍率 数值孔径 工作距离 (mm)
TU Plan EPI ELWD
(反射明场型)		 20× 0.4 19.0
50× 0.6 11.0
100× 0.8 4.5
TU Plan BD ELWD
(反射明暗场型)		 20× 0.4 19.0
50× 0.6 11.0
100× 0.8 4.5

超长工作距离物镜

T Plan EPI SLWD

EPI｜10x / 20x / 50x / 100x

T Plan SLWD系列在改善色差的同时将工作距离放在首要位置，拥有同级最佳的超长工作距离。 SLWD 10x (工作距离： 37 mm) 镜头支援处理更多样式的样品。

T Plan EPI SLWD 超长工作距离物镜
种类 倍率 数值孔径 工作距离 (mm)
T Plan EPI SLWD
(反射明场型)		 10× 0.2 37.0
20× 0.3 30.0
50× 0.4 22.0
100× 0.6 10.0

相位菲涅耳物镜

加入菲涅耳透镜可改善消色差性能并提升工作距离

改善消色差性能

普通透镜利用光的折射成像，其折射强度因光波的颜色 (波长) 而异，在靠近透镜的地方蓝光首先成像，然后由近及远依次是绿光和红光；菲涅尔透镜利用了光 的衍射，在靠近透镜的地方红光首先成像，然后由近及远依次是绿光和蓝光。把这样两种成像特性正好相反的透镜组合在一起，可以达到消色差的目的。

改善消色差性能
实现长工作距离

实现长工作距离

加入菲涅耳透镜，可以使物镜用较短的镜组距离实现消色差，以确保获得比传统物镜更长的工作距离。

具有玻璃厚度校正功能的物镜

CFI L Plan EPI CR

20x / 50x / 100x

这类物镜特别适于观察玻璃板下方的液晶。 玻片厚度校正环可以克服玻璃板板厚的影响，确保板下液晶观察的清晰度。

CFI L Plan EPI CR 玻璃厚度校正物镜
种类 倍率 数值孔径 工作距离 (mm)
CFI L Plan EPI CR
(反射明场型)		 20× CR 0.45 10.90 - 10.00
50× CR; 0.70 3.90 - 3.00
100× CRA 0.85 1.20 - 0.85
100× CRB 0.85 1.30 - 0.95

反射明场/暗场观察用物镜

CFI LE Plan EPI/BD

EPI 5x / 10x / 20x / 50x / 100x

BD 5x / 10x / 20x / 50x

反射明场/暗场观察用物镜 CFI LE Plan EPI/BD
种类 倍率 数值孔径 工作距离 (mm)
LE Plan EPI
(反射明场型)		 5× 0.1 31.0
10× 0.25 13.0
20× 0.4 3.6
50× 0.75 0.5
100× 0.9 0.31
LE Plan BD
(反射明暗场型)		 5× 0.1 18.0
10× 0.25 13.0
20× 0.4 3.6
50× 0.75 0.5

轻松操作

加装数位相机

LV150N / LV100ND / LV150NA (物镜资讯侦测与控制)

智慧物镜转换器 LV-NU5I & 转接器

智慧物镜转换器LV-NU5I配备物镜讯号转接器LV-INAD可支援NIS-Elements软体辨识目前在用物镜。 发生物镜转换时，软体中的倍率校正也会随之自动进行。LV150NA不仅支援NIS-Elements软体对物镜的自动识别，还支援由软体操控的物镜转换。

LV150NA 显微镜运作

LV100NDA (显微镜资讯检测与控制)

LV100NDA支援透过NIS-Elements软体对物镜、光强度、孔径光阑和观察方法 (明场 / 暗场 / 萤光) 进行资讯侦测和控制，从而优化对于影像拍摄至关重要的条件。

LV100NDA 显微镜运作

资讯检测和控制相容性列表

●：资讯检测与控制均可
O：限资讯检测		 LV150N/LV100ND
(使用 LV-NU5I 和 LV-INAD 时)		 LV150NA LV100NDA
(使用 LV-UEPI2A 照明器时)
DS-Ri2/DS-Fi3 (+NIS-Elements) DS-Ri2/DS-Fi3 (+NIS-Elements) DS-Ri2/DS-Fi3 (+NIS-Elements)
物镜 O ● ●
反射照明
(开启 / 关闭，光强调节)
※当使用LV-LH50PC时		 - - ●
透射照明
(开启 / 关闭，光强调节)		 - - ●
孔径光阑 - - ●
观察方法
(明场 / 暗场 / 萤光)		 - - ●

※NIS-Elements的L套与F套不支援资讯检查与控制，请使用NIS-Elements D套、Br套或Ar套。

相机系统 (显微摄影用Digital Sight系列数位相机)

显微镜用数位相机

DS-Fi3

集以往型号的主要特点 (高分辨、高感度 / 低噪音、高速即时动态显示) 于一 身，并进一步提升了这些性能。

DS-Fi3 显微镜用数位相机
显微镜用数位相机 DS-Ri2

DS-Ri2

利用尼康特有的演算法，实现显微影像的真实再现。可快速拍摄高清彩色影像。

帧频 30fps (1440×1024) 45fps (1636×1088)
最大可记录像素 2880×2048 2880×2048

影像处理及控制软体

NIS-Elements

平板电脑用

只需在平板电脑上安装NIS-Elements L即可设定和控制数位相机DS-Fi3/DS-Ri2，实现显微影像的即时动态显示，完成显微照片的拍摄。

NIS-Elements 影像处理及控制软体
NIS-Elements L 各式工具

各种工具

NIS-Elements L套软体可在拍摄到的影像上，执行简易测量，输出测量结 果实。另外，在影像上也可增加标注，这些都可以随影像资料一起保存。

场景模式

针对各种显微镜光源、观察方法和样品类型，有十种模式可供选择，以达到最佳的色彩再现和对比度。

  • 晶片 / IC
  • 金属、陶瓷 / 塑料
  • 电路板
  • 平面显示器
NIS-Elements L 场景模式
NIS-Elements L 影像拼接

影像拼接

将多个视野拍摄的影像拼接成一幅大影像。

EDF (景深扩充)

利用在不同对焦位置拍摄的影像，合成一幅全景影像。

* 关于Digital Sight功能的详细信息，请参阅“显微镜用数位相机Digital Sight系列”手册。

EDF (景深扩充)

观察方法

可相容于一系列观察方法：明场、暗场、偏光、微分干涉、反射萤光和双光束干涉观察。

半导体明场观察方法

半导体 (IC 晶片)

从物镜到照明系统， LV‑N 系列均拥有良好的消杂光结构设计，可为您提供明亮的高对比度影像。  

半导体暗场观察方法

半导体 (IC 晶片)

在物镜暗场照明系统中使用尼康的独特概念，支持明亮的暗场观察，并就样品上的微小台阶和缺陷提供高灵敏度检测。

液晶观察方法

液晶

根据样品观察需要， DIC 棱镜插片有标准型和高对比度型两种选择。 LV-N 适合于电子零件的观察。 此外， 微分干涉 ( DIC) 还可观察到模具表面极细的加工纹理 (明场所看不到的细微高度差表现) 。

印刷电路板观察方法

印刷电路板 (焊锡)

对有机 EL、有焊接的印刷电路板等样品，萤光观察可以发挥其独特的效果。

矿相观察方法

矿相

LV‑N系列可有效观察具有双折射特性的样品，如方解石、液晶、含有内应力的塑胶与有机玻璃等。

云母观察方法

云母

LV-N可配备 Michelson (TI) 和 Mirau (DI) 两种物镜，进行双光束干涉观察。 与测微目镜结合使用， 还能对样品上的微小台阶进行非接触式 (台阶高) 检测。

LCD 观察方法

LCD (彩色滤光片)

LV-N 可观察光学零件、平板显示器、载玻片上的透明样品。 在光路中加入 C-SP 型起偏器、检偏器，还可实现简易偏光观察。

乳化液观察方法

乳化液

利用光的绕射与干涉，使无色透明的样品获得良好的明暗对比，从而变得清晰可见。

奈米粒子观察方法

奈米粒子 (银)

利用两束偏振光的干涉，使无色透明的样品呈现立体像。

相关产品

Related Products

GO TOP