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Nikon LV-N 正立金相显微镜

产品型号：LV-N

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Nikon LV-N 正立金相显微镜
产品规格

LV150N/LV150NL/LV150NA

型号 LV150N LV150NL LV150NA
显微镜类型 手动型 电动型
(物镜转换器)
兼容的观察方法
  明场 暗场 DIC 荧光 偏光 双光束干涉测量
LV150/ LV150NA 反射 O O O O O O
反射 (LED) O O O - Δ -
LV150NL 反射 O - O - O O
*请使用适合于观察方法的物镜。
Δ: 仅限简易偏光观察
兼容载物台
  • LV-S32 3×2 载物台（行程： 75 × 50 mm（带玻璃板）
    *可配备 LV-S32SPL ESD 板
  • LV-S6 6×6 载物台（行程： 150 × 150 mm）
    *可配备 LV-S6WH 晶片夹／ LV-S6PL ESD 板
  • LV-SRP P 旋转载物台
  • P-GS2 G 旋转载物台 2（需配 LV-SAD 转接板）
与Digital Sight显微镜数码相机集成 DS-L3(独立型控制装置) 物镜信息检测(与智能物镜转换器LV-NU5I和LV-INAD 配合使用时) 物镜信息检测和控制
DS-U3+NIS-Elements
(基于个人计算机控制的控制装置+ 成像软件)		 物镜信息检测(与智能物镜转换器LV-NU5I和LV-INAD 配合使用时) 物镜信息检测和控制

 

LV100ND/LV100DA-U

 

型号 LV100ND LV100DA-U
显微镜类型 手动型 电动型
(物镜转换器／光强／孔径光阑／观察方法选择器)
兼容的观察方法
  明场 暗场 DIC 荧光 偏光 相对 双光束干涉测量
LV100ND,
LV100DA-U		 反射 O O O O O O -
反射 (LED) O O O - Δ - -
透射 O O O - O - O
*请使用适合于观察方法的物镜。
Δ: 仅限简易偏光观察
兼容的载物台
  • LV-S32 3×2 载物台(行程：75 × 50 mm，带玻璃板)
    *可配合使用 LV-S32SGH 载玻片标本夹。
  • LV-S64 6×4 载物台(行程：150 × 100 mm，带玻璃板)
  • LV-SRP P 旋转式载物台
  • P-GS2 G 载物台 2(配合载物台适配器 LV-SAD 使用)
  • NIU-CSRR2 Ni-U 右手柄旋转型陶瓷载物台(行程：78 × 54 mm)
  • C-SR2S 右手柄载物台(行程：78 × 54 mm：配合载物台适配器 LV-SAD 使用)
与Digital Sight显微镜数码相机集成 DS-L3(独立型控制装置) 物镜信息检测(与智能物镜转换器LV-NU5I和LV-INAD 配合使用时) 物镜、光强、孔径光阑和观察方法(场／暗场／荧光)信息检测
DS-U3+NIS-Elements
(基于个人计算机控制的控制装置+ 成像软件)		 物镜信息检测(与智能物镜转换器LV-NU5I和LV-INAD 配合使用时) 物镜、光强、孔径光阑和观察方法(明场／暗场／荧光)信息检测和控制

  DS-L3(独立型控制装置)DS-U3+NIS-Elements (基于个人计算机控制的控制装置+ 成像软件)


CFI₆₀-2

更高的光学性能

尼康的 CFI₆₀ 光学系统，因其高数值孔径和长工作距离的独特设计理念而广受好评，已经在长工作距离、 色差校正和轻量化方面占据了制高点。



T Plan、 TU Plan Fluor 和 TU Plan Apo 物镜 (常规平场物镜)


常规配置物镜
TU Plan Fluor 系列


只用一个镜头即可支持明场、暗场*、简易偏光、微分干涉和反射荧光观察。通过所有倍率下的长工作距离获得卓越的色差校正性能，可适应任何应用。

种类 倍率 数值孔径 工作距离（mm）
TU Plan Fluor EPI
（反射明场型）		 5× 0.15 23.5
10× 0.30 17.5
20× 0.45 4.5
50× 0.80 1.0
100× 0.90 1.0
TU Plan Fluor BD
（反射明暗场型）		 5× 0.15 18.0
10× 0.30 15.0
20× 0.45 4.5
50× 0.80 1.0
100× 0.90 1.0

*使用复眼透镜。



低倍率物镜
T Plan EPI


既可使用传统起偏器／检偏器进行清晰的观察，也可在无需起偏器／检偏器的情况下进行易于操作的观察。

种类 倍率 数值孔径 工作距离（mm）
T Plan EPI
（反射明场型）		 1× 0.0.3 3.8
2.5× 0.075 6.5

复消色差物镜
TU Plan Apo 系列


通过使用菲涅尔透镜，这些物镜明显获得了更长的工作距离，同时保持复消色差镜头的卓越色差校正性能。

种类 倍率 数值孔径 工作距离（mm）
TU Plan Apo EPI
（反射明场型）		 50× 0.8 2.0
100× 0.9 2.0
150× 0.9 1.5
TU Plan Apo EPI
（反射明暗场型）		 50× 0.8 2.0
100× 0.9 2.0
150× 0.9 1.5

暗场照明

  复眼透镜

通过使用复眼透镜， CFI₆₀-2 光学系统为整个视场提供明亮的暗场照明，而几乎没有不均匀现象（即使针对低倍率镜头）。
  暗场照明系统

随着数值孔径和工作距离的提升，物镜的外直径也在增加。但是，因为入射光的宽度是固定的，导致传统照明系统的光强降低。
本照明系统使用环形透镜或环形棱镜 增加拍摄光线，并获得明亮、无衰减的暗场照明。


TU Plan ELWD 和 T Plan SLWD 物镜 (长工作距离／超长工作距离物镜)


长工作距离物镜
TU Plan ELWD 系列


菲涅尔透镜的采用，增大了这些物镜的工作距离，同时提供比传统物镜更高的色差校正水平。工作距离的增大，提高了孔底／台阶底观察的深度范围，以及可操作性。

种类 倍率 数值孔径 工作距离（mm）
TU Plan EPI ELWD
（反射明场型）		 20× 0.4 19.0
50× 0.6 11.0
100× 0.8 4.5
TU Plan BD ELWD
（反射明暗场型）		 20× 0.4 19.0
50× 0.6 11.0
100× 0.8 4.5

超长工作距离物镜
T Plan EPI SLWD


T Plan SLWD 系列在改善色差的同时将工作距离放在首要位置，拥有同级最佳的超长工作距离。 SLWD 10x（工作距离： 37 mm）镜头支持处理更多样式的样品。

种类 倍率 数值孔径 工作距离（mm）
T Plan EPI SLWD
（反射明场型）		 10× 0.2 37.0
20× 0.3 30.0
50× 0.4 22.0
100× 0.6 10.0

相位菲涅尔物镜

加入菲涅尔透镜可改善消色差性能并提升工作距离


  改善消色差性能

普通透镜利用光的折射成像，其折射强度因光波的颜色（波长）而异，在靠近透镜的地方蓝光首先成像，然后由近及远依次是绿光和红光；菲涅尔透镜利用了光的衍射，在靠近透镜的地方红光首先成像，然后由近及远依次是绿光和蓝光。把这样两种成像特性正好相反的透镜组合在一起，可以达到消色差的目的。
  实现长工作距离

加入菲涅尔透镜，可以使物镜用较短的镜组距离实现消色差，以确保获得比传统物镜更长的工作距离。


其它物镜


具有玻璃厚度校正功能的物镜
CFI L Plan EPI CR


这类物镜特别适于观察玻璃板下面的液晶。 玻片厚度校正环可以克服玻璃板板厚的影响，确保板下液晶观察的清晰度。

种类 倍率 数值孔径 工作距离（mm）
CFI L Plan EPI CR
（反射明场型）		 20× CR 0.45 10.90 - 10.00
50× CR; 0.70 3.90 - 3.00
100× CRA 0.85 1.20 - 0.85
100× CRB 0.85 1.30 - 0.95

反射明场/暗场观察用物镜
CFI LE Plan EPI/BD


 

种类 倍率 数值孔径 工作距离（mm）
LE Plan EPI
（反射明场型）		 5× 0.1 31.0
10× 0.25 13.0
20× 0.4 3.6
50× 0.75 0.5
100× 0.9 0.31
LE Plan BD
（反射明暗场型）		 5× 0.1 18.0
10× 0.25 13.0
20× 0.4 3.6
50× 0.75 0.5

轻松操作

加装数码相机


LV150N / LV100ND / LV150NA (物镜信息检测和控制)

  智能物镜转换器 LV-NU5I 配备物镜信号转接器 LV-INAD 可支持 NIS-Elements 软件识别当前在用物镜。发生物镜转换时，软件中的倍率校正也会随之自动进行。 LV150NA 不仅支持 NIS-Elements 软件对物镜的自动识别，还支持由软件操控的物镜转换。


LV100NDA (显微镜信息检测和控制)

LV100NDA 支持通过 NIS-Elements 软件对物镜、光强、孔径光阑和观察方法（明场／暗场／荧光）进行信息检测和控制，从而优化对于图像拍摄至关重要的条件。


信息检测和控制兼容性列表
●：信息检测与控制均可
O：仅限信息检测		 LV150N/LV100ND
（使用 LV-NU5I 和 LV-INAD 时）		 LV150NA LV100NDA
（使用 LV-UEPI2A 照明器时）
DS-Ri2/DS-Fi3 (+NIS-Elements) DS-Ri2/DS-Fi3 (+NIS-Elements) DS-Ri2/DS-Fi3 (+NIS-Elements)
物镜 O ● ●
反射照明
（开启／关闭，光强调节）
※当使用 LV-LH50PC 时		 - - ●
透射照明
（开启／关闭，光强调节）		 - - ●
孔径光阑 - - ●
观察方法
（明场／暗场／荧光）		 - - ●

※NIS-Elements 的 L 套与 F 套不支持信息检查与控制，请使用 NIS-Elements D 套、 Br 套或 Ar 套。




相机系统 (显微摄影用 Digital Sight 系列数码相机)
显微镜用数码相机
DS-Fi3
集以往型号的主要特点（高分辨、高感度／低噪声、高速实时动态显示）于一 身，并进一步提升了这些性能。
DS-Ri2
利用尼康特有的算法，实现显微图像的真实再现。可以快速拍摄高清彩色图像。

帧频 30 fps (1440×1024) 45 fps (1636×1088)
最大可记录像素 2880×2048 2880×2048

图像处理及控制软件
NIS-Elements



只需在平板电脑上安装 NIS-Elements L 即可设置和控制数码相机 DS-Fi3/DS-Ri2，实现显微图像的实时动态显示，完成显微照片的拍摄。

  
  • 各种工具
NIS-Elements L 套软件可在拍摄到的图像上，执行简易测量，输出测量结 果。另外，在图像上也可增加标注，这些都可以随图像数据一起保存。		  
  • 场景模式
针对各种显微镜光源、观察方法和样品类型，有十种模式可供选择，以达 到最佳的色彩再现和对比度。
  • 晶片／ IC
  • 金属、陶瓷／塑料
  • 电路板
  • 平板显示器
  
  • 图像拼接
将多个视场拍摄的图像拼接成一幅大图像。		  
  • EDF（景深扩展）
利用在不同对焦位置拍摄的图像，合成一幅全景图像。		  
* 关于 Digital Sight 功能的详细信息，请参阅“显微镜用数码相机Digital Sight系列”手册。


观察方法

可兼容一系列观察方法：明场、暗场、偏光、微分干涉、反射荧光和双光束干涉观察。
半导体（IC 晶片）
从物镜到照明系统， LV-N 系列均拥有很好的消杂光结构设计，可为您提供明亮的高对比度图像。  



 半导体（IC 晶片）
在物镜暗场照明系统中使用尼康的独特理念，支持明亮的暗场观察，并就样品上的微小台阶和缺陷提供高灵敏度检测。



 液晶
根据样品观察需要， DIC 棱镜插片有标准型和高对比度型两种选择。 LV-N 适合于电子零部件的观察。此外， 微分干涉（ DIC）还可观察到模具表面极细的加工纹理 （明场所看不到的细微高度差表现）。
印刷电路板（焊锡）
对有机 EL、有焊装的印刷电路板等样品，荧光观察可以发挥其独特的效果。




 矿相
LV-N 系列可有效观察带有双折射特性的样品，如方解石、液晶、含有内应力的塑料与有机玻璃等。



 云母
LV-N 可配备 Michelson（TI）和 Mirau（DI）两种物镜，进行双光束干涉观察。与测微目镜结合使用， 还能对样品上的微小台阶进行非接触式（台阶高）检测。
LCD（彩色滤光片）
LV-N 可观察光学零件、平板显示器、载玻片上的透明样品。在光路中加入 C-SP 型起偏器、检偏器，还可实现简易偏光观察。

 乳化液
利用光的衍射与干涉，使无色透明的样品获得良好的明暗对比，从而变得清晰可见。


 纳米粒子（银）
利用两束偏振光的干涉，使无色透明的样品呈现立体像。
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