产品叙述
为新一代产品，是EPIPHOT TME300/200型金相显微镜的后续机种，支持明视野、暗视野、微分干涉、萤光、简易偏光等观察方式，具有结构紧凑、操作方便、照明均匀、成象清晰、节能省电、坚固耐用等特点。
操作方便
经常需要操作的部位，都集中在靠近观察者的位置，即显微镜的前面。如：视场光阑、孔径光阑、起偏器、检偏器、检板插拔以及明暗视野切换等。
结构紧凑、占地面积小、抗振、坚固耐用
箱形结构，坚固而耐用；与TME300相比，占地面积更小，可节约大约 1/3 的空间。
光学性能高、照明均匀、节能省电
采用Nikon特有的CFI60光学系统，不仅可以得到对比度高的、清晰的明视场图像，还可以得到亮度为过去的3倍的暗视野图像；新开发了 1 倍与 40 倍物镜； 目镜视场数达 25mm，与新开发的1倍物镜相结合，直径 25mm 的样品也可以全部看一次性地全部看见；照明均匀、成象清晰；新开发的 12V50W 卤素灯照明，其照明亮度完全可以媲美过去的 12V100W 卤素灯照明，且电力可以节省一半。
显微摄影及图像处理
通过选配Nikon的DS系列数码相机，可以进行显微摄影；所拍摄到的显微图片可以通过两种途径进行观察及后续处理，分别为：
DS-L2
1. DS-L2型独立显示控制器 (图像资料可以保存到U盘)
DS-U2
2. DS-U2型电脑连接控制器，后者需要配合NIS Elements软体一起使用利用NIS Elements软体中的功能，可以实现显微图像的无缝拼接；利用NIS Elements软体中的功能，可以进行材料分析，如晶粒度分析、球墨铸铁的石墨球化率分析等。
产品规格
尼康全新解决方案：一款理想的新型显微镜
正面操作
所有控制部件均位于仪器正面。 使用起来十分方便。
自动侦测目前物镜位址并在主机前面板上显示。
| 紧凑的内建设计 内建转盘可防止照明滤光片上堆积灰尘，保持明亮、一致的照明效果。 此外，内建电源的设计也节省了空间。  |
操作简单 检偏器 / 起偏器互锁机构 可方便连接 / 松开检偏器 / 起偏器附件。 |
明场 / 暗场自动孔径切换 从明场观察切换至暗场观察时，视场光阑和孔径光阑会自动打开。 回到明场观察时，一器会自动恢复先前的视野和孔径光阑。  |
| 防眩光机构 此机构可自动防止切换物镜时产生的反射眩光。 |
迅速查看状态 使用者可透过显微镜前面板轻松查看物镜和标本的观察位置。 |
箱式结构
占地面积比传统型号更小：仅为传统型号的 1/3！
因为采用独特的箱式结构，MA200更加耐用。
- 深度仅 315mm 的紧凑结构
采用箱式结构的MA200显微镜的宽度和深度均比传统型号大幅降低：其占地面积仅为传统型号的 1/3！ - 极高的稳定性 / 耐久性
减少高倍观察时的影像抖动。 具有极高的强度。
高效能
基本性能大幅提升。 设计更符合人机理念，观察影像更清晰。
- 超宽视野
将具有超宽视野的MA200与尼康新开发的1x物镜镜头结合使用，可在同一视野中观察直径高达 25mm 的标本。
- 均匀的照明
更均匀、一致的照明可增强影像的清晰度，特别适合数位成像
通过合成功能，最多可拼接 8 幅影像
- CFI60光学系统
全球领先的NikonCFI60光学系统的亮度为传统型号的三倍，可提供清晰的高对比度明场和暗场影像。 该产品线还包括新开发的 1x 和 40x 物镜镜头。 - 节能
50W卤素灯光源与过去使用的100W光源亮度一致，但耗电量仅为后者的一半。
尼康显微镜独有的最佳成像功能
影像拍摄
DS-L2相机控制装置 - 独立型
使用者无需使用目镜，便可透过内建高解析度、大尺寸（8.4吋）XGA LCD 显示屏，轻松观察和讨论标本情况。
| 可方便储存 / 列印数据 | 状态显示 |
|---|---|
| 已拍摄影像可储存至 USB 记忆体或CF卡。 除了可透过相容PictBridge的印表机直列印，使用者还可透过区域网路将资料储存至伺服器。 |
仅限MA200 当物镜倍率精度改变时，可自动改变校准资料。 因此使用者可方便地使用DS-L2的测量功能。 照明亮度可透过调整电压值的方式手动调整。 这一 点对于设定最佳观察和拍摄参数非常重要。 |
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影像分析
DS-L2相机控制装置 - PC控制型
影像软体NIS-Elements - 控制软体
使用者可透过DS-U2和NIS-Elements进行从拍照到测量、分析及管理已拍摄影像等一系列操作。 *要了解更多信息，请查看NIS-Elements产品目录
合成
相邻的影像可以拼接在一起，创造出宽视野影像。 因为照明效果更加均匀、一致，现在拍摄的影像更加生动。
状态显示
仅限MA200
当物镜倍率精度改变时，可自动改变校准资料。 因此使用者可方便地使用NIS-Elements的测量功能和其他可选软体模组（晶粒度和铸铁球化率分析模组等）。
使用者可透过PC调整照明条件，这点对于设定最佳观察、影像拍摄参数，尤其是大影像合成参数非常重要。
（同时显示中间可变倍率精度）
晶粒粒度分析模组
选配
本模组可依 JIS G0551或 ASTM E112-96/E1382-97 标准检测并测量1个或2个相位标本的晶粒度。
可进行以下测量：
- G 晶粒度
- 单位面积内的晶粒度及/或截距
- 晶粒数量
- 向异性指数
- 其他基本晶粒度统计
可依使用者需求提供以下客制化测量技术：
- 平面
- 线性
- 圆形
- Abrams
铸铁球化率分析模组
选配
本模组可依据 JIS G5502 或 ASTM A247-06标准检测、测量和分类石墨校正标本的石墨成分和铁氧体成分。
主要应用：
- 石墨形状及尺寸分类
- 结核状态
- 石墨、铁氧体、珠光体成份
- 其他基本铁质材料分析统计
- 影像遮罩、尺寸限制及模组形状分类
